在国家教育部“春晖计划”的支持下，“欧洲华人微电子专业论坛”第二次组团回国服务，于4月21-22日在上海浦东张江高科技园区举办了关于“芯片测试技术和失效分析”专题讲座，来自集成电路产业测试及失效分析相关技术人员近200人参加了此次讲座。

随着国内集成电路产业的迅猛发展，高素质人才的培养日益成为人们关注的热点。此次论坛请到了来自德国、比利时和荷兰的5位在欧洲半导体公司具有丰富经验的专业人士，就芯片测试中的实际问题及其解决方案、测试的挑战和可测试设计解决方案、失效分析技术等进行了详实的介绍。

“欧洲华人微电子专业论坛”今年3月在比利时举办了“欧洲华人第二次微电子专业研讨会”，并计划于2007年夏天在德国慕尼黑举办“欧洲华人第三次微电子专业研讨会”。