内容导读：

LBISTArchitect在ASIC、IC和IP内核中自动插入内建自测试（BIST）电路，以保证较高的故障覆盖率。它可以自动生成BIST结构（BIST控制器、测试向量发生器和电路特征压缩器）的可综合RTL级HDL描述，并快速进行故障仿真以确定故障覆盖率。它支持多时钟设计，可以在工作频率下进行at-speed测试，在选择内部测试点时使用了MTPI专利技术将面积代价降至最低，确保设计完全处于BIST-ready状态。LBISTArchitect可以直接与BSDArchitect和ATPG工具进行接口。 
    主要特点： 
    1、 内建自测试技术降低了芯片测试对ATE测试机memory容量的要求; 
    2、针对部件或系统进行内建自测试（BIST）的自动综合、分析与故障仿真，便于进行设计与测试的复用; 
    3、at-speed测试和多频率测试确保了高性能、高质量的测试设计; 
    4、全面的BIST设计规则检查确保了易用性、减少了设计时间、缩短了设计面市时间; 
    5、专利的MTPI技术能够在获得最大故障覆盖率的同时将对设计的影响减至最低; 
    6、BIST部件的RTL综合和与工艺无关，可以保证设计复用; 
    7、配合BSDArchetect可实现层次化的LBIST电路连接关系

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来源: 作者: 时间:2006/9/25 16:50:53