经济压力 集成器件制造商、半导体代工厂、无生产线公司和外包封装测试供应商正面临新的测试调战。市场在迅速的变革。通讯、信息处理、游戏、视频、无线以及支持这些应用的高性能总线产品的创新正加速增长。而同时产品的生命周期却在缩短，无法预期的市场要求和残酷的成本压力也在日益增加。
整个行业也在改变。产品的平均售价降低、利润空间减少。处于技术前沿不断提高的IC性能，增加的设计复杂度，嵌入式IP需要多种测试策略，同时新的缺陷类型也在调整传统的测试方法。
模块化结构提供可扩展的性能 这些挑战要求采用单一测试平台的ATE（自动测试设备），如科利登的Sapphire系统，就能提供高性能、极具灵活度和成本效益。Sapphire独特的Npower结构能够真正实现ATE可扩展性。这种结构使测试平台的基础设施与系统性能特征分离。Npower结构结合了完全封装的仪器板测试仪设计和专利的同步结构接口总线，可以进行快速灵活的传输，涵盖较广的性能范围并对即插即用仪器实现精确的同步。
模块化的仪器板测试仪是系统灵活性的关键。每个仪器板－模拟或数字－集成了所有必须的测试资源，包括时序、存储器PMU和直流源。每个仪器可以作为独立的测试仪工作，插入测试头后具有进行完整的自测试和诊断的能力。仪器的模块化结合Npower通用插槽结构提供完全的配置灵活性，并且不需要传统昂贵的背板。任何仪器可以插入任意测试头插槽。
高速同步结构接口总线连接并同步不同的仪器。数据收集，传输和程序加载时间比同类系统快5倍。高精度时钟分配保证了时序沿放置精度和同步。固有的仪器独立的触发机制和简化的仪器连接使多工位和多线程测试方法的实现较为简单。
使用的优化 通过将性能特征与系统基础设施分离，可以实现Sapphire的不同配置。灵活的配置省去了那些昂贵且用不到的性能。用户可以只购买其需要的部分，这样可以显著的降低测试成本。
性能- 数字仪器覆盖从DC到多个GHz。多通道模拟选件覆盖24-bit 音频到14-bit宽带视频甚至更高的要求。
管脚数 - 没有背板，传统的管脚数概念也就不存在了。Sapphire通用的插槽可以满足较少管脚和多管脚的测试策略。
功耗 - 甚至器件电源也可以提供高度的灵活性。单一仪器板上的多个通道可以提供并行测试能力，还可以合并使用提供复杂SoC测试所需的大电流。对于更高性能的MPU和芯片组器件，125安培的电源可以合并使用提供最高375安培的电流。
来源:半导体国际 作者: 时间:2005/1/20 0:00:00
