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NI和泰克联合举办\设计、验证及测试\巡回研讨会
内容导读:
美国国家仪器中国有限公司(National Instruments)和泰克电子中国有限公司(Tektronix)联合推出一系列巡回技术研讨会-- "2004设计、验证及测试论坛(Design, Validation, Test Forum, 简称DVTF 2004)"。研讨会将于2004年7、8两月在深圳、上海、台北、南京、新竹、成都、高雄、西安和北京等地相继举行,会议期间将展示NI LabVIEW图形化开发软件在泰克的示波器上运行的效果和相关的演示实例。具体信息请联系公司,或访问www.ni.com或www.tektronix.com
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来源:半导体国际 作者: 时间:2004/6/16 0:00:00
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