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X-Fab开发SOI槽形隔离技术
内容导读:

据EE Times网站报道,硅晶元代工专家X-Fab Semiconductor Foundries AG近期宣布,开发出一项新的0.6微米的基于槽形隔离技术的CMOS工艺。

该公司表示,此项技术——XT06将主要面向于汽车电子、光学以及其他相关领域。XT06技术将使功率控制电路、智能电动机控制电路和D级的音频放大器电路中的混频信号的设计成为可能。

XT06的“自由电势”设计可以让设计者通过沟槽隔离各个区域,然后向每个区域添加不同的电压。基于一个5V的CMOS核心,XT06与X-Fab的XC06的模块混频技术是兼容的。使得MOS晶体管的击穿电压达到110V。

相关链接(英文):
http://www.eetimes.com/news/semi/showArticle.jhtml?articleID=188501215

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来源:SEMI 作者: 时间:2006/8/1 0:00:00
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